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Poids de l’Open access dans la production CNRS

Titre
Electrothermal Evaluation of Single and Multiple Solder Void Effects on Low-Voltage Si MOSFET Behavior in Forward Bias Conditions
BSO - Titre
Electrothermal Evaluation of Single and Multiple Solder Void Effects on Low-Voltage Si MOSFET Behavior in Forward Bias Conditions
DOI
DOAI
Identifiant WoS
WOS:000396396200011
Accès ouvert
OA - Oui
Source - Accès ouvert
OA - Non
Type d'accès
Archive
Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY

ISSN
2156-3950
Type de document
  • Article
Notoriété
2 - Acceptable
CNRS
Oui
CNRS - Institut
  • INSIS - Institut des sciences de l'ingénierie et des systèmes
uid:/05SFDJK2
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